[Paper Seminar - 6] C–V Measurement With Photon Probe to Quantify the Trap DOS in Amorphous TFTs

<paper seminar> -날짜 2021년 6월 17일 (금) -시간 오후 02:00~ -장소 미래관 704-1호 -논문

*제목 :Capacitance–Voltage Measurement With Photon Probe to Quantify the Trap Density of States in Amorphous Thin-Film Transistors *저자 : Youn-Gyoung Chang, Hee Sung Lee, Kyunghee Choi, and Seongil Im *저널 : IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS *게재연월 : 2012년 7월