[Paper Seminar - 5] Effect of O-Content on Current Stress-Induced Instability in Bottom-Gate a-IGZO

<paper seminar>

-날짜

2021년 5월 14일 (금)

-시간

오후 02:30~

-장소

미래관 704-1호 회의실

-논문

*제목 : Effect of Oxygen Content on Current Stress-Induced Instability in Bottom-Gate Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistors

*저자 : Sungju Choi , Jae-Young Kim, Hara Kang, Daehyun Ko, Jihyun Rhee, Sung-Jin Choi, Dong Myong Kim and Dae Hwan Kim

*저널 : Materials

*게재연월 : 2019년 9월